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GOST 9717.2-82

NORME D'ÉTAT P 57376-2016 GOST 193-2015 GOST 27981.5-2015 GOST 27981.2-2015 GOST 27981.1-2015 GOST 13938.11-2014 GOST P 56240-2014 GOST 859-2014 GOST P 55685-2013 GOST P 54922-2012 NORME D'ÉTAT P 54310-2011 GOST 31382-2009 GOST P 52998-2008 GOST 859-2001 GOST 6674.4-96 GOST 6674.3-96 GOST 6674.2-96 GOST 6674.1-96 GOST 4515-93 GOST 28515-97 GOST 17328-78 GOST 614-97 GOST 15527-70 GOST 13938.13-77 GOST 13938.13-93 GOST 1020-77 GOST 5017-2006 GOST 1652.11-77 GOST 15027.12-77 NORME NATIONALE 15027.11-77 GOST 493-79 GOST 1953.9-79 GOST 23859.2-79 GOST 1953.5-79 GOST 1953.3-79 GOST 1953.12-79 GOST 1953.6-79 GOST 15027.18-86 GOST 27981.2-88 GOST 27981.5-88 GOST 15027.5-77 GOST 1652.12-77 GOST 15027.8-77 GOST 1652.7-77 GOST 15027.6-77 GOST 15027.7-77 GOST 1652.2-77 GOST 1652.4-77 GOST 15027.2-77 GOST 1652.8-77 GOST 1652.3-77 GOST 13938.6-78 GOST 13938.7-78 GOST 13938.1-78 GOST 13938.2-78 GOST 13938.4-78 GOST 13938.8-78 GOST 13938.10-78 GOST 13938.12-78 GOST 23859.8-79 GOST 1953.1-79 GOST 613-79 GOST 9716.2-79 GOST 23912-79 GOST 23859.1-79 GOST 23859.4-79 GOST 1953.2-79 GOST 20068.1-79 GOST 9717.3-82 GOST 9717.1-82 GOST 27981.4-88 GOST 28057-89 GOST 6674.5-96 GOST 23859.11-90 GOST 24978-91 GOST 15027.14-77 GOST 15027.10-77 GOST 15027.4-77 GOST 1652.6-77 GOST 1652.10-77 NORME NATIONALE 15027.9-77 GOST 13938.5-78 GOST 13938.11-78 GOST 18175-78 GOST 13938.3-78 GOST 23859.6-79 GOST 1953.4-79 GOST 1953.8-79 GOST 1953.7-79 GOST 23859.9-79 GOST 1953.11-79 GOST 1953.15-79 GOST 1953.10-79 GOST 1953.16-79 GOST 23859.5-79 GOST 23859.3-79 GOST 9716.3-79 GOST 1953.14-79 GOST 15027.16-86 GOST 15027.17-86 GOST 27981.6-88 GOST 27981.1-88 GOST 15027.20-88 GOST 17711-93 GOST 1652.1-77 GOST 15027.13-77 GOST 1652.5-77 GOST 15027.1-77 GOST 1652.13-77 GOST 1652.9-77 GOST 15027.3-77 GOST 13938.9-78 GOST 23859.10-79 GOST 193-79 GOST 20068.2-79 GOST 1953.13-79 GOST 23859.7-79 GOST 9716.1-79 GOST 20068.3-79 GOST 24048-80 GOST 9717.2-82 GOST 15027.15-83 GOST 15027.19-86 GOST 27981.3-88 GOST 20068.4-88 GOST 27981.0-88 GOST 13938.15-88 GOST 6674.0-96

GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2)


GOST 9717.2-82

Groupe B59

NORME D'ÉTAT DE L'UNION DE LA SSR

CUIVRE

Méthode d'analyse spectrale d'échantillons métalliques standard avec enregistrement photographique du spectre

Cuivre. Méthode d'analyse spectrale d'échantillons métalliques étalons avec enregistrement photographique du spectre

OKSTU 1709

Date de lancement 1983-07-01

INFORMATIONS DONNÉES

1. DÉVELOPPÉ ET INTRODUIT par le Ministère de la métallurgie non ferreuse de l'URSS

DÉVELOPPEURS

A.M. Rytikov, A.A. Nemodruk , M.V. Taubkin , M.P. Burmistrov , I.A. Vorobieva

2. APPROUVÉ ET INTRODUIT PAR Décret du Comité d'État de l'URSS sur les normes du 24 mars 1982 N 1199

3. REMPLACER GOST 9717 .2−75

4. RÉGLEMENTATION DE RÉFÉRENCE ET DOCUMENTS TECHNIQUES

La désignation du NTD auquel le lien est donné
Numéro d'article
GOST 61–75 Section 2
GOST 83–79
Section 2
GOST 195–77
Section 2
GOST 244–76
Section 2
GOST 859–78
Introduction
GOST 4160–74
Section 2
GOST 4461–77
Section 2
GOST 6709–72
Section 2
GOST 9717.1-82
1.1
GOST 18300–87
Section 2
GOST 19627–74
Section 2
GOST 25086–87
1.1
GOST 25664–83
Section 2

5. La limitation de la durée de validité a été supprimée par le décret de la norme d'État du 03.11.92 N 1481

6. REPUBLICATION (mai 1997) avec modifications n° 1, 2, approuvées en décembre 1987 et novembre 1992 (IUS 2-88, 2-93)


Cette norme établit une méthode d'analyse spectrale d'échantillons métalliques standard (RM) avec enregistrement photographique du spectre dans le cuivre selon GOST 859 *.
_______________
* Le document n'est pas valable sur le territoire de la Fédération de Russie. GOST 859–2001 est en vigueur. — Note du fabricant de la base de données.

La méthode est basée sur l'excitation du spectre d'échantillons métalliques par une décharge en arc à courant alternatif ou continu, suivie de son enregistrement photographique.

La méthode permet de déterminer la teneur en impuretés du cuivre dans la gamme des fractions massiques :

Élément défini
Fraction massique, %
Antimoine
0,0005−0,06
Arsenic
0,0004−0,07
Magnésium
0,0003−0,007
Étain
0,0003−0,07
Silicium
0,0005−0,007
Bismuth
0,0001−0,01
Argent
0,001−0,005
Nickel
0,0005−0,3
Le fer
0,0005−0,08
Manganèse
0,0001−0,01
Conduire
0,0004−0,06
Chrome
0,002−0,05
Zinc 0,0007−0,06.


La méthode est caractérisée par un écart type relatif GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) mesure unique, donnée dans le tableau.1.

Tableau 1

Élément défini

Valeurs GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) pour les plages de fractions massiques, %

0,0001-
-0,0003
0,0003-
-0,001
0,001-
-0,003
0,003−0,01
0,01−0,03
0,03−0,1
Plus de 0,1
Antimoine
-
0,20
0,18
0,15
0,10
0,10
-
Arsenic
-
0,20
0,17
0,15
0,10
0,10
-
Magnésium
-
0,15
0,12
0,10
-
-
-
Étain
-
0,20
0,16
0,10
0,10
0,10
-
Silicium
-
0,25
0,25
0,20
-
-
-
Bismuth
0,15
0,12
0,10
0,10
-
-
-
Argent
-
-
0,10
0,10
-
-
-
Nickel
-
0,20
0,15
0,10
0,10
0,10
-
Le fer
-
0,15
0,12
0,10
0,10
0,10
-
Manganèse
0,15
0,10
0,10
0,10
-
-
-
Conduire
-
0,15
0,14
0,10
0,10
0,10
-
Chrome
-
-
0,15
0,15
0,10
0,10
-
Zinc
-
0,12
0,10
0,10
0,10
0,10
-



(Édition modifiée, Rev. N 2).

1. EXIGENCES GÉNÉRALES

1.1. Exigences générales pour la méthode d'analyse - selon GOST 25086 et GOST 9717 .1 *.
________________
* Le document n'est pas valable sur le territoire de la Fédération de Russie. GOST 31382–2009 est valide. — Note du fabricant de la base de données.

2. ÉQUIPEMENTS, MATÉRIAUX ET SOLUTIONS

Spectrographe à moyenne ou haute résolution pour photographier la région ultraviolette du spectre (ISP-30, STE-1 et autres types).

Alimentation en courant continu pour l'arc, fournissant une tension de 200-400 V et un courant jusqu'à 10 A.

Source de courant alternatif (générateur GEM-1 avec trépied ST-16, DG-2 avec trépied ST-16, DG-2 avec trépied ST-9, IVS-21 et IVS-28).

Microphotomètre MF2 ou IFO-460.

Spectroprojecteur PS-18 ou autre type.

Dispositif d'affûtage des électrodes en cuivre, modèle de machine-outil KP-35.

Plaques photographiques spectrographiques.

Métol (sulfate de para-méthylaminophénol) selon GOST 25664 .

Hydroquinone (paradioxybenzène) selon GOST 19627 .

Sulfate de sodium anhydre selon GOST 195 .

Carbonate de sodium selon GOST 83 .

Bromure de potassium selon GOST 4160 .

Thiosulfate de sodium cristallin selon GOST 244 .

Acide acétique selon GOST 61 .

Acide nitrique selon GOST 4461 dilué 1:10.

Alcool éthylique technique rectifié conformément à GOST 18300 . Consommation d'alcool par détermination 10 g.

Échantillons standard de composition de cuivre pour analyse spectrale.

Le révélateur pour plaques photographiques de types spectraux 1, 2, "Micro" et ES est préparé en mélangeant des volumes égaux des solutions 1 et 2 avant utilisation.

Solution 1 : 2,5 g de métol, 12 g d'hydroquinone et 100 g de sulfite de sodium sont dissous dans 500-700 ml GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) eau et ajouter de l'eau à 1 dm GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) .

Solution 2 : 100 g de carbonate de sodium et 7 g de bromure de potassium sont dissous dans 500-700 ml GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) eau et ajouter de l'eau à 1 dm GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) ; l'utilisation d'autres révélateurs de contraste est également autorisée.

Solution de fixateur : 300 g de thiosulfate de sodium, 25 g de sulfate de sodium et 8 ml GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) l'acide acétique est dissous dans 1 dm GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) eau distillée; d'autres solutions de fixation sont autorisées.

Il est permis d'utiliser d'autres appareils, équipements et matériels, à condition que les caractéristiques métrologiques des analyses ne soient pas inférieures à celles prévues dans la présente norme.

Eau distillée selon GOST 6709 .

(Édition modifiée, Rev. N 1, 2).

3. PREPARATION POUR L'ANALYSE

3.1. Les échantillons analysés et les échantillons standards sont préparés sous forme de bâtonnets de 7 à 8 mm de diamètre, de 30 à 60 mm de long, deux bâtonnets de chaque échantillon analysé. Les extrémités des tiges sont affûtées en un hémisphère ou un cône tronqué d'un diamètre de 1,5 à 1,7 mm, gravées pour éliminer les contaminants de surface dans de l'acide nitrique dilué à 1:10, lavées à l'eau, à l'alcool et séchées.

La masse des bâtonnets, dont les spectres sont photographiés sur une plaque photographique, ne doit pas différer de plus de 1 g.

Il est permis de fabriquer des tiges de la taille spécifiée à partir de copeaux, de poudre, etc., par fusion à une température de (1225 ± 25) ° C dans des creusets en graphite du diamètre requis. L'alliage est maintenu à l'état fondu pendant 1 min au maximum, puis les creusets sont placés dans de l'eau froide et refroidis rapidement.

(Édition modifiée, Rev. N 2).

4. CONDUITE DE L'ANALYSE

4.1 L'échantillon ou le MR est fixé dans les pinces supérieure et inférieure du portoir.

Entre les extrémités des électrodes, écartées de 1,5 à 2,5 mm, un arc de courant continu ou alternatif d'une puissance de 6 à 9 A est allumé. Lors de la détermination de la teneur en argent, un arc de courant alternatif d'une puissance de 4 A est utilisé.

L'écart interélectrodes est réglé selon un gabarit ou une vis micrométrique. La longueur de l'arc et la position de la source sur l'axe optique sont contrôlées à l'aide d'une lentille de projection et d'un écran installés à l'extérieur de la zone allant de la source à la fente. Il est également permis d'utiliser tout autre système d'éclairage fournissant une intensité de ligne uniforme dans le plan focal de l'appareil.

Les spectres sont photographiés à l'aide d'un spectrographe à optique quartz à moyenne dispersion de type ISP-30 ou à l'aide d'un spectrographe à diffraction de type STE-1, etc. Selon le type de spectrographe, la largeur de fente varie de 0,007 à 0,015 mm.

Afin d'assurer la densité optique normale des lignes analytiques et du fond, il est permis d'utiliser des plaques photographiques de différentes sensibilités, cependant, la densité optique minimale mesurable du fond doit être d'au moins 0,25.

Le temps d'exposition et la distance de la source lumineuse à la fente du spectrographe sont choisis en fonction de la sensibilité des plaques photographiques utilisées, assurant la densité de fond normale du spectre continu. Une augmentation de la densité de fond due à un voile, une exposition , etc. n'est pas autorisée.

Le temps de pré-combustion est de 10 à 15 s. Le temps d'exposition est d'au moins 20 s.

Au moins deux spectrogrammes sont photographiés pour chaque échantillon ou MR.

(Édition modifiée, Rev. N 2).

4.2. Traitement des plaques photographiques

Les plaques photographiques sont développées dans un révélateur, fixées dans une solution fixante, lavées à l'eau courante et séchées.

5. TRAITEMENT DES RÉSULTATS

5.1. Les densités optiques des raies analytiques et des raies de référence dans les spectrogrammes sont mesurées à l'aide d'un microphotomètre.

Les longueurs d'onde des raies analytiques et de comparaison, ainsi que les gammes de fractions massiques des éléments pour le spectrographe de type ISP-30 sont données dans le tableau 2, pour le spectrographe de diffraction de type STE-1, dans le tableau 3.

Tableau 2

Élément défini
Longueur d'onde de la raie analytique, nm
Emplacement de la mesure de la densité de fond
Fraction massique, %
Antimoine
259.806
Arrière plan
0
0,001−0,01
Antimoine
261.230
Arrière plan
une
0,01−0,06
Arsenic
234.984
Arrière plan
2
0,0006−0,01
Arsenic
286.045
Arrière plan
une
0,01−0,07
Magnésium
277.983
Arrière plan
une
0,001−0,007
Étain
283.999
Arrière plan
une
0,001−0,01
Étain
281.352
Arrière plan
3
0,01−0,07
Silicium
288.158
Arrière plan
une
0,001−0,007
Bismuth
306.772
Arrière plan
une
0,0005−0,01
Argent
338.289
Cuivre
338.142
0,001−0,005
Nickel
305.082
Arrière plan
une
0,001−0,06
Nickel
282.129
Arrière plan
une
0,06−0,3
Le fer
296.690
Arrière plan
une
0,002−0,08
Le fer
358.119
Arrière plan
une
0,0005−0,005
Manganèse
279.482
Arrière plan
une
0,0003−0,01
Conduire
283.307
Arrière plan
quatre
0,001−0,01
Conduire
287.332
Arrière plan
5
0,01−0,06
Chrome
283.563
Arrière plan
une
0,003−0,05
Zinc
334.502
Arrière plan
3
0,002−0,06


Noter. Le fond 1 est la valeur minimale de la densité optique de fond, mesurée près de la ligne analytique du côté des ondes plus courtes.

Arrière-plan 0 - arrière-plan 259,715 nm. Maximum à une distance de 0,09 mm de la raie d'antimoine à 259,806 nm vers les ondes courtes.

Le fond 2 est la densité optique de la ligne moléculaire faible à 235,08 nm, qui est prise comme densité de fond dans les calculs.

Fond 3 - la valeur minimale de la densité optique du fond, mesurée près de la ligne analytique à partir de longueurs d'onde plus longues.

Fond 4 - la valeur maximale de la densité optique du fond, mesurée à une distance de 0,13 mm de la ligne de plomb 283,307 nm vers les ondes longues.

Fond 5 - la valeur minimale de la densité optique de fond, mesurée entre les lignes de cuivre 288,29 et 288,53 nm.

Tableau 3

Élément défini
Longueur d'onde de la raie analytique, nm
Emplacement de la mesure de la densité de fond
Fraction massique, %
Antimoine
261.230
Arrière plan
une
0,01−0,06
Antimoine
259.806
Arrière plan
2
0,0005−0,006
Le fer
300.957
Arrière plan
une
0,004−0,01
Le fer
259.837
Arrière plan
une
0,0005−0,006
Conduire
283.307
Arrière plan
une
0,0004−0,002
Conduire
287.332
Arrière plan
3
0,002−0,06
Étain
283.999
Arrière plan
une
0,0003−0,005
Étain
281.352
Arrière plan
3
0,005−0,07
Manganèse
260.569
Arrière plan
une
0,0001−0,01
Arsenic
234.984
Arrière plan
quatre
0,0004−0,005
Arsenic
286.045
Arrière plan
une
0,005−0,07
Nickel
306.462
Arrière plan
une
0,01−0,06
Nickel
305.082
Arrière plan
une
0,0005−0,01
Nickel
282.129
Arrière plan
une
0,06−0,3
Bismuth
289.797
Arrière plan
une
0,001−0,01
Bismuth
306.772
Arrière plan
une
0,0001−0,001
Magnésium
277.983
Arrière plan
une
0,0003−0,007
Zinc
334.502
Arrière plan
3
0,0007−0,01
Zinc
334.502
Cuivre
335.447
0,01−0,06
Silicium
251.612
Cuivre
262.7
0,0005−0,007
Argent
338.289
Cuivre
338.142
0,001−0,005


Noter. Le fond 1 est la valeur minimale de la densité optique de fond, mesurée près de la ligne analytique du côté des ondes plus courtes.

Arrière-plan 2 - arrière-plan 259,715 nm.

Le fond 3 est la valeur minimale de la densité optique de fond, mesurée près de la ligne analytique du côté des ondes longues.

Le fond 4 est la densité optimale de la ligne moléculaire faible à 235,08 nm, qui est prise comme densité de fond dans les calculs.


D'autres lignes analytiques et de comparaison peuvent être utilisées, à condition qu'elles fournissent des caractéristiques métrologiques et des limites inférieures des fractions massiques déterminées des éléments qui satisfont aux exigences de la présente norme.

Les graphiques d'étalonnage sont construits en coordonnées :

GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) ou GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) ,

GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) — intensité relative de la raie de l'élément déterminé et de la raie de comparaison (fond) ;

GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) - la différence entre les densités optiques de la raie de l'élément à déterminer et de la raie de comparaison (cuivre) ;

GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) est la fraction massique de l'élément à déterminer en CO.

La méthode principale pour tracer des graphiques est la méthode des « trois normes » ; d'autres méthodes de traçage sont autorisées, par exemple, la méthode de la courbe d'étalonnage dure, la méthode de l'étalon de référence , etc.

La fraction massique du contenu déterminé des éléments est trouvée selon le graphique d'étalonnage par la valeur GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) trouvé dans le tableau des applications par GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) calculé à partir de trois (deux) spectrogrammes.

5.2. Le résultat de l'analyse est considéré comme la moyenne arithmétique des résultats de deux déterminations parallèles, si l'écart entre eux à un niveau de confiance GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) 0,95 ne dépasse pas la valeur calculée par la formule

GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) ,

GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) — moyenne arithmétique de deux déterminations parallèles, % ;

GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) est l'écart-type relatif.

Si l'écart dépasse GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) , l'analyse est répétée à partir de nouvelles portions du même échantillon. En cas d'écart répété, analyser un nouvel échantillon.

5.1, 5.2. (Édition modifiée, Rev. N 2).

5.3. La reproductibilité des résultats des analyses primaires et répétées est considérée comme satisfaisante si l'écart entre les résultats des deux analyses ne dépasse pas la valeur calculée par la formule

GOST 9717.2-82 Cuivre. Méthode d'analyse spectrale pour les échantillons standard de métal avec enregistrement photographique du spectre (avec modifications n° 1, 2) .

5.4. Surveillance de l'exactitude des résultats d'analyse conformément à GOST 25086 pour des échantillons standard de composition de cuivre au moins une fois par trimestre.

5.3, 5.4. (Introduit en plus, Rev. N 2).